深圳科测达检测技术有限公司
Shenzhen KCD Testing Techlology Co., LTD
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编辑：Admin上传时间：2024-02-17浏览：2130 次
主板测试主要针对主板各个电性能信号检测
| 测试项目 | 测试子项目 | 测试二级子项目 | 备注 |
| 主板电性能测试 | 压流测试 | VCC 电压 | |
| 纹波电压 | |||
| 上电电源信号完整性 | |||
| 下电信号完整性 | |||
| WIFI 信号上下电波形检测 | |||
| EN 信号上下电波形检查 | |||
| 晶振测试 | 频偏 | ||
| 负性阻抗 | |||
| 晶振电压波形检查 | |||
| 总线测试 | IIC 电性能测试 | 含协议解析 | |
| SPI电性能测试 | 含协议解析 | ||
| I2S电性能测试 | 含协议解析 | ||
| GPIO测试 | 上电/下电 | ||
| 系统电源时序 | 系统AC/DC 上电和下电 | ||
| 接口 | HDMI电性能测试 | ||
| VGA电性能测试 | |||
| CVBS电性能测试 | |||
| UART电性能测试 | 含协议解析 | ||
| USB 电性能测试 | |||
| 屏参测试 | Frequency Shift | ||
| Wave Check-Vid/Vin/Vcm | |||
| Power Sequence-（T1~T7) | |||
| Power:Voltage/Current/Ripple Voltage/Signal Check | |||
| Derating | SOC | ||
| DCDC/LDO | |||
| MOSFET | |||
| Transistor | |||
| Resistor | |||
| Bead | |||
| Diode | |||
| CAP | |||
| 电解寿命测试 | 电压，纹波电流，温升 | 支持温度范围-40~1000℃ |